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Conductive Atomic Force Microscopy

Applications in Nanomaterials

de

Éditeur :

Wiley-VCH


Paru le : 2017-08-03



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Description
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
To provide a global perspective, the chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and cover novel strategies, configurations and setups where new information will be obtained with the help of CAFM.
With its substantial content and logical structure, this is a valuable reference for researchers working with CAFM or planning to use it in their own fields of research.
Pages
384 pages
Collection
n.c
Parution
2017-08-03
Marque
Wiley-VCH
EAN papier
9783527340910
EAN PDF
9783527699780
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
384
Taille du fichier
16855 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
160,99 €
EAN EPUB
9783527699797
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
384
Taille du fichier
26624 Ko
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Prix
160,99 €

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