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Materials Science in Microelectronics II

The effects of structure on properties in thin films

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Éditeur :

Elsevier Science


Paru le : 2010-07-07



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Description
The subject matter of thin-films – which play a key role in microelectronics – divides naturally into two headings: the processing / structure relationship, and the structure / properties relationship. Part II of 'Materials Science in Microelectronics' focuses on the latter of these relationships, examining the effect of structure on the following: •Electrical properties•Magnetic properties•Optical properties•Mechanical properties•Mass transport properties•Interface and junction properties•Defects and properties - Captures the importance of thin films to microelectronic development - Examines the cause / effect relationship of structure on thin film properties
Pages
228 pages
Collection
n.c
Parution
2010-07-07
Marque
Elsevier Science
EAN papier
9780080446394
EAN PDF SANS DRM
9780080460406
Informations sur l'ebook
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Prix
189,90 €

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